摘要： 您好,今天小編胡舒來為大家解答以上的問題。薄膜干涉檢查平整度用的是哪兩個表面，薄膜干涉檢查平整度相信很多小伙伴還不知道,現在讓我們一起來看看吧！1、上一塊光潔度高的板的下表面與待測...

您好,今天小編胡舒來為大家解答以上的問題。薄膜干涉檢查平整度用的是哪兩個表面，薄膜干涉檢查平整度相信很多小伙伴還不知道,現在讓我們一起來看看吧！

1、上一塊光潔度高的板的下表面與待測面之間的空氣層形成薄膜干涉.若待測面光潔度高,在上板觀測到的亮線與暗線平行.若待測面有突起,此處對應的光程差小于此點未突起時的光程差,所以這點的光程差與靠近劈尖的尖部某點的光程差相同,所以這點未突起時對應條痕若是亮的,現在就變暗(若原是暗的,現在就變亮),所以這點對應的條痕彎向劈尖厚部.同樣分析,可知這點凹陷時,條痕彎向劈尖尖部.疑問：為什么只要考慮空氣薄膜界面上發生的反射，上一塊光潔度高的板上表面也有反射，他對觀察結果沒影響嗎？標準件的上下表面平行，它們的反射光的相位差處處都相同——它們干涉的結果處處相同，不會有明暗條紋。

2、另外，被測物件一般都不透明，所以就沒它的下表面什么事兒了。

3、 標準件的上表面和被測物的上表面產生的條紋間距與標準件的下表面和被測物的上表面產生的條紋間距是完全相同的，且兩者的對比度不同，于是條紋的明暗就由其中之一決定。

4、通常只講后者，我想是為了敘述方便，而且這也不影響原理的說明。

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