摘要： 您好,今天小編胡舒來為大家解答以上的問題。薄膜干涉檢查平整度用的是哪兩個(gè)表面，薄膜干涉檢查平整度相信很多小伙伴還不知道,現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！1、上一塊光潔度高的板的下表面與待測(cè)...

您好,今天小編胡舒來為大家解答以上的問題。薄膜干涉檢查平整度用的是哪兩個(gè)表面，薄膜干涉檢查平整度相信很多小伙伴還不知道,現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

1、上一塊光潔度高的板的下表面與待測(cè)面之間的空氣層形成薄膜干涉.若待測(cè)面光潔度高,在上板觀測(cè)到的亮線與暗線平行.若待測(cè)面有突起,此處對(duì)應(yīng)的光程差小于此點(diǎn)未突起時(shí)的光程差,所以這點(diǎn)的光程差與靠近劈尖的尖部某點(diǎn)的光程差相同,所以這點(diǎn)未突起時(shí)對(duì)應(yīng)條痕若是亮的,現(xiàn)在就變暗(若原是暗的,現(xiàn)在就變亮),所以這點(diǎn)對(duì)應(yīng)的條痕彎向劈尖厚部.同樣分析,可知這點(diǎn)凹陷時(shí),條痕彎向劈尖尖部.疑問：為什么只要考慮空氣薄膜界面上發(fā)生的反射，上一塊光潔度高的板上表面也有反射，他對(duì)觀察結(jié)果沒影響嗎？標(biāo)準(zhǔn)件的上下表面平行，它們的反射光的相位差處處都相同——它們干涉的結(jié)果處處相同，不會(huì)有明暗條紋。

2、另外，被測(cè)物件一般都不透明，所以就沒它的下表面什么事兒了。

3、 標(biāo)準(zhǔn)件的上表面和被測(cè)物的上表面產(chǎn)生的條紋間距與標(biāo)準(zhǔn)件的下表面和被測(cè)物的上表面產(chǎn)生的條紋間距是完全相同的，且兩者的對(duì)比度不同，于是條紋的明暗就由其中之一決定。

4、通常只講后者，我想是為了敘述方便，而且這也不影響原理的說明。

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